描述:WQL粒度儀(微機(jī))基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測(cè)定顆粒的粒度大小及分布,采用變速測(cè)定方式,使1次測(cè)量的粒度范圍比大于20:1。
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WQL粒度儀(微機(jī))詳細(xì)介紹
WQL粒度儀(微機(jī))基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測(cè)定顆粒的粒度大小及分布,采用變速測(cè)定方式,使1次測(cè)量的粒度范圍比大于20:1。
WQL粒度儀(微機(jī))技術(shù)參數(shù)
轉(zhuǎn)速范圍:600~10000r/min
光信號(hào)穩(wěn)定性:0.2%/30min
可測(cè)粒度范圍:0.01~60μm
測(cè)試準(zhǔn)確度:5% (使用原上海測(cè)試技術(shù)研究院所提供的二氧化硅標(biāo)樣)
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